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產品信息

特長

堅持高精度測量

● 可即時測量絕對量子效率（絕對量子產率）

● 可去除再激發熒光發射

● 采用積分半球單元，實現明亮的光學系統。

● 低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光

堅持簡單的操作

● 使用專用軟件輕松操作

● 易于安裝/拆卸樣品測量池

● 節省空間且緊湊的設計

● 可以使用分光型激發光源選擇任意波長。

● 通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。

堅持多功能

● 與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容

● 豐富的分析功能

● 量子效率（量子產率）測量

● 激發波長相關性測量

● 發射光譜測量

● PL激發光譜測量

● EEM（激發發射矩陣）測量

用法

LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率（量子產率）測量薄膜狀

樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產率）測量-遠程熒光粉等的熒光樣品

量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。

染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產率）測量

復雜化合物的測量

高精度的原因

1. 具有積分半球的理想光學系統

QE-2000 配備有積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特點。

由于非發光部分（支架等）可以暴露在外面，所以可以保持很小的自吸收，并且可以實現理想的光學系統。

反射鏡使同一點的照度增加一倍，從而實現高靈敏度測量。

樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，并且幾乎沒有損壞積分球內部的風險。

2.通過再激發熒光校正功能觀察“真實物性值”

在包括再激發熒光發射的狀態下，觀察包括器件的特性，而不是對材料本身物性的觀察，無法得到真實的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發熒光校正進行簡單而準確的測量。

3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區雜散光

使用傳統檢測器（多色儀）時，紫外區域的雜散光以高水平檢測，因此不適合測量量子效率（量子產率）。大冢電子通過開發消除雜散光的技術解決了這個問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強度約為我們傳統產品的 1/5，即使在紫外線區域也能實現高精度測量。